偏压对多弧离子镀TiN膜层的影响 |
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引用本文: | 辛煜,薛青.偏压对多弧离子镀TiN膜层的影响[J].表面技术,1997,26(1):8-10. |
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作者姓名: | 辛煜 薛青 |
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作者单位: | [1]苏州大学薄膜材料实验室 [2]苏州大学测试中心 |
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摘 要: | 主要运用多弧离子镀技术研究了偏压对不锈钢基片上镀制的TiN膜层的影响,运用扫描电子显微镜,X-射线衍射仪和附着力测定仪研究了膜表面的钛滴,针也,膜的的取向和临界载荷等性能。结果表明:低偏压下膜表面的针孔密度较小,高偏压下钛滴趋于细化。划痕试验表明:在150-200V偏压下膜层的临界载荷最佳。
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关 键 词: | 多弧离子镀 喷镀 氮化钛 离子镀 镀膜 偏压 |
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