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亚微米门阵列ASIC中地弹噪声降低技术
引用本文:韩磊, 张丹华, 于宗光,.亚微米门阵列ASIC中地弹噪声降低技术[J].电子器件,2006,29(2):413-415.
作者姓名:韩磊  张丹华  于宗光  
作者单位:中国电子科技集团公司第五十八所,江苏,无锡,214035;清华大学电子工程系,北京,100084
摘    要:由封装电感引起的地弹效应对亚微米门阵列ASIC电路的影响,对门阵列母片的结构和应用情况进行了分析,在逻辑设计、库单元设计、库单元结构、门阵列结构等方面提出了多种改进方法来抑制地弹噪声,并将这些改时方法应用在乘法器电路的改版设计中.取得了非常好的效果

关 键 词:门阵列  专用集成电路  地弹效应  降低
文章编号:1005-9490(2006)02-0413-03
收稿时间:2005-09-12
修稿时间:2005-09-12

Reducing Technology of Ground-Bound Noise in Sub-Micro Gate-Array ASIC
HAN Lei,ZHANG Dan-hu,YU Zong-guang..Reducing Technology of Ground-Bound Noise in Sub-Micro Gate-Array ASIC[J].Journal of Electron Devices,2006,29(2):413-415.
Authors:HAN Lei  ZHANG Dan-hu  YU Zong-guang
Affiliation:1. The 58th Research Institute of China Electronic Technology Group , Wuxi Jiangsu 214035, China; 2. Department of Electronic Engineering of Tsinghua University, Beijing 10084 ,China
Abstract:Summarized that how Ground-Bounce noise which arose from package inductance affected sub-micron gate-array ASIC ;Analyzed gate-array structure and application of gate-array,advanced some improved technique to reduce Groumd-Bounce noise at logic design,library cell structure ,gate-array structure And applied this technique to correct a design of multiplication IC,acquired very good result.
Keywords:gate-array  ASIC  ground-bound noise  reduction
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