| 基于边界扫描技术的TAP接口研究 |
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| 引用本文： | 王让定,叶富乐,杜呈透.基于边界扫描技术的TAP接口研究[J].计算机工程,2003,29(3):139-141. |
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| 作者姓名： | 王让定 叶富乐 杜呈透 |
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| 作者单位： | 宁波大学信息科学与工程学院,宁波,315211 |
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| 摘 要： | 边界扫描机制是一种新型的VLSI电路测试及可测试性设计方法。该文在研究边界 扫描体系结构和TAP接口控制器的基础上，在一个测试系统中，实现了基于JTAG规范的主TA P 接口设计。
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| 关 键 词： | 可测试性设计 边界扫描 JTAG规范 TAP接口 |
| 文章编号： | 1000-3428(2003)03-0139-03 |
| 修稿时间： | 2002年2月25日 |
Research of TAP Interface Based on Boundary-scan Technique |
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| WANG Rangding,YE Fule,DU Chengtou.Research of TAP Interface Based on Boundary-scan Technique[J].Computer Engineering,2003,29(3):139-141. |
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| Authors: | WANG Rangding YE Fule DU Chengtou |
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| Abstract: | Boundary-scan technique(BST) is a new and effective way of test and design for testability for VLSI circuits. On the basis of research on the boun d ary-scan architecture and TAP controller, the paper implements a design for a T AP interface based on JTAG specification in a test system. |
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| Keywords: | Design for testability Boundary scan JTAG specification TAP inte rface |
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