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1MeV电子加速器辐照剂量的测量
引用本文:杜纪富,姜灿,王升,陈思,李月生.1MeV电子加速器辐照剂量的测量[J].测试技术学报,2014(3).
作者姓名:杜纪富  姜灿  王升  陈思  李月生
作者单位:湖北科技学院非动力核技术湖北省协同创新中心;
基金项目:湖北科技学院核技术专项基金资助项目(ZX1103,ZX1022,ZX1102,PY1103,BK1103);湖北省教育厅科学技术研究资助项目(Q20122808);国家科技部973计划资助项目(2009CB939705);国家自然科学基金资助项目(20873096,20921062);教育部-民委共建湖北省催化材料重点实验室资助项目(CHCL09007)
摘    要:目前吸收剂量的测量方法有多种,对低能电子束吸收剂量进行测量时,由于受到电子束穿透深度、热效应、动态加工等因素的影响,可用方法很少,通常用显色薄膜剂量片进行测量.本文采用FWT-60-00薄膜显色剂量片测量1MeV低能电子束进行辐照加工时的吸收剂量,研究了吸收剂量与束流强度、辐照时间、束下装置运行速度的关系,测量了材料中吸收剂量的深度分布,并对加速器能量进行了校正.结果表明:在相同的辐照时间和电子能量下,吸收剂量随束流的增加线性增长;速度较高时,吸收剂量与小车速度也呈现出良好的线性关系.

关 键 词:薄膜显色剂量片  辐照剂量  束下装置  电子加速器
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