| CCD增维测量原理及其在二维光电准直仪中的应用 |
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| 引用本文： | 寇欣宇,王向军.CCD增维测量原理及其在二维光电准直仪中的应用[J].计量技术,2000(7). |
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| 作者姓名： | 寇欣宇 王向军 |
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| 作者单位： | 天津大学精密仪器与光电子工程学院,天津,300072 |
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| 摘 要： | 详细讨论了CCD增维测量原理,并将此原理应用于光电自准直仪的设计中.分析了制约测量范围的因素,通过对分划板刻线形式的改进,将CCD的像面利用率提高了60%,文中详细描述了测量系统的机构布置,最后给出了实验结果
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| 关 键 词： | 光电自准直仪 光电检测 增维测量 |
Application of CCD Super-dimentional Principle in 2D Opto-electronic Autocollimator |
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| Kou Xinyu,Wang Xiangjun.Application of CCD Super-dimentional Principle in 2D Opto-electronic Autocollimator[J].Measurement Technique,2000(7). |
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| Authors: | Kou Xinyu Wang Xiangjun |
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