Pb(Zr,Ti)O_3铁电场效应晶体管的制备及性能研究 |
| |
作者姓名: | 于军 周文利 赵建洪 谢基凡 黄歆 |
| |
作者单位: | 华中理工大学固体电子学系 |
| |
摘 要: | 采用PLD(PulsedLaserDeposition)工艺制备Au/Pb(Zr,Ti)O3/SiO2/Si异质结构.这种结构的铁电场效应晶体管(FFET)的电性能由I-V和C-V特性表征.Au/Pb(Zr,Ti)O3/SiO2/Si异质结构的C-V曲线表现为极化开关,对应500nmPZT,记忆窗口约3V.实验表明Au/PZT/SiO2/Si栅结构实现了铁电体场效应存储性能.
|
关 键 词: | 铁电薄膜 场效应晶体管 FET |
本文献已被 CNKI 维普 等数据库收录! |
| 点击此处可从《半导体学报》浏览原始摘要信息 |
|
点击此处可从《半导体学报》下载全文 |
|