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Pb(Zr,Ti)O_3铁电场效应晶体管的制备及性能研究
作者姓名:于军  周文利  赵建洪  谢基凡  黄歆
作者单位:华中理工大学固体电子学系
摘    要:采用PLD(PulsedLaserDeposition)工艺制备Au/Pb(Zr,Ti)O3/SiO2/Si异质结构.这种结构的铁电场效应晶体管(FFET)的电性能由I-V和C-V特性表征.Au/Pb(Zr,Ti)O3/SiO2/Si异质结构的C-V曲线表现为极化开关,对应500nmPZT,记忆窗口约3V.实验表明Au/PZT/SiO2/Si栅结构实现了铁电体场效应存储性能.

关 键 词:铁电薄膜 场效应晶体管 FET
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