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| Cr2O3掺杂量对SnO2压敏电阻微观结构和电气性能的影响 | |
| 作者姓名： | 郝亚超 赵洪峰 谢清云 |
| 作者单位： | 1. 新疆大学电气工程学院;2. 西安西电避雷器有限责任公司 |
| 基金项目： | 新疆维吾尔自治区自然科学基金资助项目(2022D01C21)； |
| 摘 要： | 以SnO2粉、CuO粉、Nb2O5粉、Cr2O3粉为原料，采用粉末冶金技术烧结制备(98.95-x)SnO2-1CuO-0.05Nb2O5-xCr2O3(x=0,0.01,0.02,0.03,0.05,物质的量分数/%)压敏电阻，研究了Cr2O3掺杂量对该压敏电阻微观结构和电气性能的影响。结果表明：随着Cr2O3掺杂量的增加，烧结试样的相对密度、收缩率、平均晶粒尺寸均先增大后减小，当Cr2O3物质的量分数为0.02%时相对密度和收缩率最高，Cr2O3物质的量分数为0.01%时晶粒尺寸最大，粒径分布最均匀；随着Cr2O3掺杂量增加，SnO2 |
| 关 键 词： | SnO2基压敏电阻 Cr2O3 电气性能 微观结构 |