~(67)Ga双谱指数图及其在混合淬灭校正中的应用

本文利用新建立的双谱指数图和混合淬灭区两个概念,以及作者先前给出的淬灭类型贡献因子QTCF的计算方法,借助~(67)Ga短半衰期(78h)γ核素作能量内标准,校正混合淬灭样品DPM值,结果校正误差比单纯用化学或颜色淬灭校正曲线校正的误差缩小约一半。双谱指数图是纵横坐标均为谱指数的图,但两个坐标谱指数或测量条件不同,或分别为~(67)Ga和外标准的谱指数。化学和颜色淬灭系列样品在双谱指数图上得到两条分离的曲线,中间为混合淬灭样品所填充,故称混合淬灭区。依据混合淬灭样品在混合淬灭区的位置可以确定QTCF值,给出DPM校正值。