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| 存储器测试仪新进展 | |
| 摘 要： | 随着ＤＤＲＳＤＲＡＭ、ＤＲＤＲＡＭ、ＳＬＤＲＡＭ及ＰＢＳＲＡＭ等超高速存储器相继问世，以及测试仪采用ＡＬＰＧ、ＤＤＲ模式等功能以适应高速测试的要求，今后必须采用依测试脚配置资源的结构，并设法解决进一步提高专用集成电路集成度的问题。超高速存储器Ｌ... |
| 关 键 词： | 存储器 测试仪 大规模集成电路 |
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