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| 在刻度Si(Au)面垒半导体探测器中发现的一个问题及其解决方法 | |
| 引用本文： | 宋张勇,杨治虎,阮芳芳,张宏强,邵健雄,崔莹,谢江山,高志民,GAO Zhi-min,邵曹杰,卢荣春,蔡晓红.在刻度Si(Au)面垒半导体探测器中发现的一个问题及其解决方法[J].核电子学与探测技术,2007,27(5):1000-1004. |
| 作者姓名： | 宋张勇 杨治虎 阮芳芳 张宏强 邵健雄 崔莹 谢江山 高志民 GAO Zhi-min 邵曹杰 卢荣春 蔡晓红 |
| 作者单位： | 1. 中国科学院近代物理所,兰州 730000;中国科学院研究生院,北京 100039 2. 中国科学院近代物理所,兰州,730000 3. 兰州大学现代物理系,兰州,730000 |
| 摘 要： | 在刻度Si(Au)面垒半导体探测器过程中观察到241Am标准放射源的的峰道址随入射窗的位置及大小的移动现象.猜测原因可能是Au层镀的不均匀导致电子-空穴对的复合几率增加,但具体原因仍需要进一步分析.由于这对重离子-原子碰撞实验中测量背散射谱极为不利,我们给出解决该问题的方法是固定入射窗的位置及大小,并刻度两套背散射谱仪,其对称放置在靶室内同时测量背散射离子,通过比较便可得到可信的实验结果. |
| 关 键 词： | Si(Au)面垒半导体探测器 入射窗 峰道址. |
| 文章编号： | 0258-0934（2007）05-1000-05 |
| 收稿时间： | 2006-03-12 |
| 修稿时间： | 2006年3月12日 |
A problem finding in calibration of Si(Au) surface-barrier semiconductor detector and a simple resolved method |
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| SONG Zhang-yong,YANG Zhi-hu,TAN ji-Lian,RUAN Fang-fang,ZHANG Hong-qiang,SHAO Jian-xiong,CUI Ying,XIE Jiang-shan,GAO Zhi-min,SHAO Cao-jie,LU Rong-chun,CAI Xiao-hong.A problem finding in calibration of Si(Au) surface-barrier semiconductor detector and a simple resolved method[J].Nuclear Electronics & Detection Technology,2007,27(5):1000-1004. | |
| Authors: | SONG Zhang-yong YANG Zhi-hu TAN ji-Lian RUAN Fang-fang ZHANG Hong-qiang SHAO Jian-xiong CUI Ying XIE Jiang-shan GAO Zhi-min SHAO Cao-jie LU Rong-chun CAI Xiao-hong |
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