|
|||||
|
|
| 选矿厂矿浆品位自动分析——载流 X 荧光分析仪 | |
| 引用本文： | 李忠义.选矿厂矿浆品位自动分析——载流 X 荧光分析仪[J].有色金属,1979(1). |
| 作者姓名： | 李忠义 |
| 摘 要： | 载流 X 荧光分析仪,是以 X 射线为一次辐射源,采用集中的进样装置,连续依次测定许多种矿浆品位的一种大型精密分析仪。现简要介绍其原理。一、X 射线的产生及衍射图1是一种产生 X 射线的射线管。其中K 是发 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |
|
||||||||||||||||
|
||||||||||||||||
|
||||||||||||||||
|
|
|
|
| 设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏 |
|
Copyright©北京勤云科技发展有限公司 京ICP备09084417号 |