| 基于调试异常模型的嵌入式处理器片上调试设计 |
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| 引用本文： | 刘鹏,钟耿,徐国柱,邬可俊.基于调试异常模型的嵌入式处理器片上调试设计[J].浙江大学学报(自然科学版 ),2010,44(6):1067-1072. |
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| 作者姓名： | 刘鹏 钟耿 徐国柱 邬可俊 |
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| 作者单位： | 1.浙江大学 信息与电子工程学系, 浙江 杭州310027; 2.杭州士兰微电子股份有限公司,浙江 杭州 310012 |
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| 摘 要： | 针对调试的可移植性,建立同流水相关的精确调试异常模型,模型通过增加调试中断、单步、软硬件断点等精确调试异常的产生和处理机制、片外调试存储空间以及基于JTAG(joint test action group)的快速通信协议,实现一种通过JTAG接口的嵌入式处理器核的片上调试方案.该调试模型在嵌入式处理器RISC32E核的应用实现表明,它具有良好的可观察性和可控制性,并且该模型的应用不局限于六级流水结构的微处理器,还可以方便地推广到其他流水结构的微处理器.对比调试过程中的一些基本调试操作开销,该调试方案具有较高的调试效率.
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| 关 键 词： | 片上调试 JTAG 可观察性 可控制性 |
On-chip debug design based on debug exception model
for embedded processor |
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| LIU Peng,ZHONG Geng,XU Guo-zhu,WU Ke-jun.On-chip debug design based on debug exception model
for embedded processor[J].Journal of Zhejiang University(Engineering Science),2010,44(6):1067-1072. |
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| Authors: | LIU Peng ZHONG Geng XU Guo-zhu WU Ke-jun |
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| Affiliation: | 1. Department of Information Science and Electronic Engineering, Zhejiang University, Hangzhou 310027, China;
2. Hangzhou Silan Microelectronics CO.,LTD, Hangzhou 310012, China |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | on-chip debug joint test action group （JTAG） observability controllability |
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