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一种提高分段式DAC线性度测试效率的方法
引用本文:夏达方,张科峰,陈晓飞. 一种提高分段式DAC线性度测试效率的方法[J]. 半导体技术, 2015, 40(7): 554-558. DOI: 10.13290/j.cnki.bdtjs.2015.07.015
作者姓名:夏达方  张科峰  陈晓飞
作者单位:华中科技大学 光学与电子信息学院,武汉,430074;华中科技大学 光学与电子信息学院,武汉 430074;武汉芯泰科技有限公司,武汉430073
基金项目:国家自然科学基金资助项目
摘    要:随着数模转化器(DAC)位数的增加,模拟量的步进值越来越小,数字万用表的精度和负载电阻的热效应成为影响DAC线性度测量的重要因素.基于分段式电流舵DAC的结构,结合其二进制和温度计译码电路的特点,从理论上提出了一种使用简码测试线性度的方法,并以一款分段式10 bit DAC为例,分别采用简码和传统的全码方法验证了它的微分非线性DNL与积分非线性INL.结果表明,简码测试和全码测试得到的DNL与INL曲线趋势一致,但简码测试效率高,仅占全码测试周期的1/8;另外简码测试减小了负载电阻温漂引入的误差,因此相比全码测试线性度的性能提高了0.1~0.2 LSB.

关 键 词:数模转化器(DAC)  微分非线性  积分非线性  简码测试  全码测试

A Method to Improve the Linearity Measurement Efficiency of the Segmented DAC
Abstract:
Keywords:digital-to-analog (DAC)  differential nonlinearity  integral nonlinearity  selected codes test  all codes test
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