微处理机化的存贮器自动测试装置

半导体存贮器的测试,不论对于存贮器生产厂家,还是对存贮器用户来说都是很重要的。一般用小型计算机或专用设备来测试存贮器,但它们很复杂,造价也高。这里介绍用微处理机来对存贮器进行功能测试。在存贮器测试中主要感兴趣的是功能测试和参量变化测试。参量变化测试(如温度、所加直流电压、噪音和频率等)可在一个特殊的系统里进行。本文主要讨论存贮器功能测试。其目的是要验证: (1)每一个存贮器单元是否可以存贮“0”或“1”。 (2)每一个存贮器单元可以唯一地寻址。