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射频磁控溅射制备声表面波器件用ZnO薄膜
引用本文:郑泽渔,张树人,杨成韬,钟朝位,董加和,孙明霞,刘敬松.射频磁控溅射制备声表面波器件用ZnO薄膜[J].压电与声光,2007,29(1):83-86.
作者姓名:郑泽渔  张树人  杨成韬  钟朝位  董加和  孙明霞  刘敬松
作者单位:电子科技大学,微电子与固体电子学院,四川成都,610054
摘    要:研究了采用射频磁控溅射法在SiO2/Si衬底上制备ZnO薄膜工艺中溅射功率、氧氩比(V(O2)/V(Ar))及衬底温度对ZnO薄膜结构的影响。利用X-射线衍射(XRD)和扫描力显微镜(AFM)对薄膜进行结构性能分析,表明其结构性能随工艺参数变化的规律。利用优化的工艺条件:射频功率60 W、V(O2)/V(Ar)为0.55和衬底温度350℃,在DLC/Si衬底上制备了ZnO薄膜,制作加工成声表面波滤波器件,测试分析了频率响应特性,中心频率为596.5 MHz。

关 键 词:射频磁控溅射  氧化锌薄膜  射频功率  氧氢比(V(O2)/V(Ar))  衬底温度  声表面波器件
文章编号:1004-2474(2007)01-0083-03
修稿时间:2005-09-28

Effects of Sputtering Conditions on Properties of ZnO Films Prepared by RF Magnetron Sputtering for SAW Applications
ZHENG Ze-yu,ZHANG Shu-ren,YANG Cheng-tao,ZHONG Chao-wei,DONG Jia-he,SUN Ming-xia,LIU Jing-song.Effects of Sputtering Conditions on Properties of ZnO Films Prepared by RF Magnetron Sputtering for SAW Applications[J].Piezoelectrics & Acoustooptics,2007,29(1):83-86.
Authors:ZHENG Ze-yu  ZHANG Shu-ren  YANG Cheng-tao  ZHONG Chao-wei  DONG Jia-he  SUN Ming-xia  LIU Jing-song
Affiliation:School of Microelectronic and Solid-State Electronic, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu 610054, China
Abstract:
Keywords:RF magnetron sputtering  ZnO films  RF power  V(O2)/V(Ar) ratio  substrate temperature  SAW device
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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