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加扰技术对模数转换器性能的影响
作者姓名:朱蓓丽  岂飞涛  张琳  刘涛  刘海南  滕瑞  李博  赵发展  罗家俊  韩郑生
作者单位:中国科学院微电子研究所, 北京 100029;中国科学院硅器件技术重点实验室, 北京 100029;中国科学院微电子研究所, 北京 100029;中国科学院硅器件技术重点实验室, 北京 100029;中国科学院大学, 北京 100049
摘    要:分析了加扰技术改善ADC性能的基本原理,通过选择合适的扰动信号注入到理想量化器模型中进行仿真,验证了加扰技术能够随机化量化误差的周期性三角形分布。在加扰技术的实际应用中,首先基于10 bit 25 MS/s Pipelined ADC模型完成加扰仿真,仿真得到ADC的SFDR由74.69 dB提高到了85 dB。然后对两种ADC芯片进行加扰实验,该加扰技术使两种ADC芯片的SFDR分别提高了8.29 dB和5.97 dB。理论仿真和实验验证了加扰技术可以明显提高ADC的SFDR,为后期ADC内部集成加扰电路模块做好了准备工作。

关 键 词:加扰   ADC   量化误差   SFDR
收稿时间:2022-01-26
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