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LCCC封装器件焊点可靠性研究
引用本文:任晓刚,徐延东,马磊,梁振宇,崔凯.LCCC封装器件焊点可靠性研究[J].电子工艺技术,2013(4):200-203.
作者姓名:任晓刚  徐延东  马磊  梁振宇  崔凯
作者单位:山东航天电子技术研究所
摘    要:LCCC封装器件具有体积小和电性能好的特点,因此应用越来越广泛。但是,由于其无引线特点,以及本体材料与基板FR-4材料的热膨胀系数不匹配,在温度变化过程中焊点应力集中,容易导致疲劳失效。在分析LCCC封装器件高可靠焊接要求和影响焊点可靠性寿命因素的基础上,分别选择28引脚、44引脚和64引脚三种LCCC封装器件进行焊接试验,并通过温度循环试验验证焊点的可靠性,最终得出验证结果。

关 键 词:LCCC  焊点  可靠性
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