LCCC封装器件焊点可靠性研究 |
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引用本文: | 任晓刚,徐延东,马磊,梁振宇,崔凯.LCCC封装器件焊点可靠性研究[J].电子工艺技术,2013(4):200-203. |
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作者姓名: | 任晓刚 徐延东 马磊 梁振宇 崔凯 |
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作者单位: | 山东航天电子技术研究所 |
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摘 要: | LCCC封装器件具有体积小和电性能好的特点,因此应用越来越广泛。但是,由于其无引线特点,以及本体材料与基板FR-4材料的热膨胀系数不匹配,在温度变化过程中焊点应力集中,容易导致疲劳失效。在分析LCCC封装器件高可靠焊接要求和影响焊点可靠性寿命因素的基础上,分别选择28引脚、44引脚和64引脚三种LCCC封装器件进行焊接试验,并通过温度循环试验验证焊点的可靠性,最终得出验证结果。
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关 键 词: | LCCC 焊点 可靠性 |
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