电子束预辐射筛选抗辐射晶体管工艺的初步研究 |
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引用本文: | 林茂清,林锡刚.电子束预辐射筛选抗辐射晶体管工艺的初步研究[J].核技术,1997,20(10):625-630. |
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作者姓名: | 林茂清 林锡刚 |
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作者单位: | 四川联合大学原子核科学技术研究所 |
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摘 要: | 介绍了用电子束预辐射损伤法研究晶体管抗β射线损伤能力的工作,研究经预辐射损伤的晶体管在不同电子束能量,束流密度及不同时间下进行退火处理后性能的恢复能力,为“预辐射损伤-辐射退火”筛选抗辐射晶体管工艺提供了一定的理论和实验依据。
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关 键 词: | 晶体管 电子束 辐射损伤 退火 抗辐射工艺 |
A study on screening techniques of radiation-resistive transistors by electron beam pre-irradiation |
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Abstract: | |
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Keywords: | Transistor Electron beam Irradiation damage Annealing |
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