首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

Capacitance–conductance–current–voltage characteristics of atomic layer deposited Au/Ti/Al2O3/n-GaAs MIS structures
摘    要:

本文献已被 ScienceDirect 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号