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| SOC测试中BIST的若干思考 | |
| 引用本文： | 王新安,吉利久. SOC测试中BIST的若干思考[J]. 微电子学与计算机, 2003, 20(10): 41-44,47 |
| 作者姓名： | 王新安 吉利久 |
| 作者单位： | 北京大学微电子研究院,北京,100871 |
| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目(60106004) |
| 摘 要： | 文章简述SOC测试中BIST的优势，结合SOC设计与测试的相关标准，探讨BIST的发展。 |
| 关 键 词： | SOC 测试 BIST 集成电路 设计 数字电路 模拟电路 |
To Discuss the BIST in SOC Test |
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