| 全膜电容器热稳定试验研究 |
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| 引用本文： | 严玉婷,倪学锋.全膜电容器热稳定试验研究[J].电力电容器,2003(3):34-37. |
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| 作者姓名： | 严玉婷 倪学锋 |
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| 作者单位： | [1]武汉大学99575班，武汉430072 [2]武汉高压研究所，武汉430074 |
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| 摘 要： | 全膜电容器由于绝缘性能优良，比特性远优于其它介质电容器。但正因为如此，其散热面积也远小于其它介质电容器。因此，其热的稳定特性并不一定就优于其它电容器。本文通过对电容器比例单元热稳定性能的试验研究，确定了内部最热点与外壳最热点的关系，为更好地做好电容器热稳定性能试验提供了参考依据。
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| 关 键 词： | 全膜电容器 热稳定性能 试验 介质损耗 绝缘性能 介质电容器 |
| 文章编号： | 1002-0349(2003)03-0034-04 |
| 修稿时间： | 2003年4月14日 |
Research on Thermal Stability Test of All-film Power Capacitor |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Capacitor Temperature rise Dielectric losses |
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