| 可见光面阵CCD响应非均匀性的检测与校正 |
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| 引用本文： | 刘妍妍,李国宁,张瑜,李洪祚.可见光面阵CCD响应非均匀性的检测与校正[J].液晶与显示,2010,25(5). |
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| 作者姓名： | 刘妍妍 李国宁 张瑜 李洪祚 |
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| 作者单位： | 1. 长春理工大学电子信息工程学院,吉林,长春,130022
2. 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,吉林,长春,130033 |
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| 基金项目： | 国家"863"计划基金资助项目 |
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| 摘 要： | 通过分析可见光面阵CCD的响应非均匀性,提出了一种适用于所有面阵CCD的响应非均匀性检测系统。利用该检测系统对全帧型面阵CCD485进行了辐射定标,建立了面阵CCD485数字图像的灰度值和积分球出口处辐照度之间的响应关系,并描绘了响应度曲线。从定标采集得到的数字图像可以看出灰度值有明显的跳跃,响应非均匀性已经超过了5%,在微光拍照时将严重影响成像的质量,所以必须进行校正。根据面阵CCD响应度曲线来选择非均匀性校正算法,考虑到面阵CCD485的响应度为线性,这里采用了两点校正算法,求出面阵CCD各个像元的校正因子(增益和偏置),并存储到校正矩阵中,通过乘积加法运算把各个像元的信号校正成面阵CCD的平均信号值。实验结果表明,两点校正算法使面阵CCD485的响应非均匀性降低到原来的1/10左右,是一种实用有效的校正方法。
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| 关 键 词： | 面阵CCD 响应度 非均匀性校正 两点校正算法 |
Detection and Correction of Response Non-Uniformity Based on Visible Light Area CCD |
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| LIU Yan-yan,LI Guo-ning,ZHANG Yu,LI Hong-zuo.Detection and Correction of Response Non-Uniformity Based on Visible Light Area CCD[J].Chinese Journal of Liquid Crystals and Displays,2010,25(5). |
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| Authors: | LIU Yan-yan LI Guo-ning ZHANG Yu LI Hong-zuo |
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