微机在半导体存贮嚣RAM动态检查中的应用 |
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引用本文: | 庞永寿.微机在半导体存贮嚣RAM动态检查中的应用[J].机械与电子,1986(5). |
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作者姓名: | 庞永寿 |
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作者单位: | 贵州大学 |
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摘 要: | 利用下面介绍的方法,可对RAM的可靠性进行动态检查。在TP801—A单板机上可检查1K×4位的2114静态读写存贮器;在TP801—B单板机上可检查6116(2K×8位)静态读写存贮器。将待查RAM(2K字节)插入以2000H单元为起始地址的插座中,用下面的检查程序进行检查。该程序可反复循环运行,可根据需要决定动态检查的时间。如果检查时间到,RAM的读写一直不出错,即可按复位键RESET或按返回监控键MON,停止程序的运行。
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