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| X-射线全谱拟合法测量钛白粉的晶粒度 | |
| 引用本文： | 王乐,王永在,刘胜,许宏民,王克刚,孙计赞.X-射线全谱拟合法测量钛白粉的晶粒度[J].山东化工,2014,43(12):75-76,78. |
| 作者姓名： | 王乐 王永在 刘胜 许宏民 王克刚 孙计赞 |
| 作者单位： | 1. 淄博出入境检验检疫局,山东淄博,255031 2. 山东理工大学,山东淄博,255049 |
| 基金项目： | 山东检验检疫局科技项目 |
| 摘 要： | 采用X射线粉末衍射(XRD)全谱拟合的方法测量了钛白粉样品的晶粒度。选择步进式扫描采谱、结合全谱拟合法程序Topas中的基本参数法(FPA)软件全谱拟合,计算得到晶粒度参数,并与X射线粉末衍射线宽法、扫描电镜(SEM)分析结果进行对比。综合分析认为,X射线全谱拟合法计算钛白粉晶粒度无需标样、操作简便、分析快速准确,可以作为钛白粉的质量控制方法。 |
| 关 键 词： | X射线粉末衍射 全谱拟合 钛白粉 晶粒度 |
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