ZnO压敏电阻的显微结构及其形成机理 |
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引用本文: | 南策文,诸培南.ZnO压敏电阻的显微结构及其形成机理[J].硅酸盐通报,1987(1). |
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作者姓名: | 南策文 诸培南 |
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作者单位: | 武汉工业大学
(南策文),华东化工学院(诸培南) |
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摘 要: | 用光学显微镜、X—射线、TEM、EPMA分析了典型ZnO压敏电阻(ZnO—MgO-Bi_2O_3-Sb_2O_3系统陶瓷)的显微结构、物相、晶界形貌、成分分布,ZnO是主晶相,添加剂是富集在颗粒边界中形成不连续的第二相。本文中,还讨论了该系统ZnO压敏陶瓷的形成机理。
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