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ZnO压敏电阻的显微结构及其形成机理
引用本文:南策文,诸培南.ZnO压敏电阻的显微结构及其形成机理[J].硅酸盐通报,1987(1).
作者姓名:南策文  诸培南
作者单位:武汉工业大学 (南策文),华东化工学院(诸培南)
摘    要:用光学显微镜、X—射线、TEM、EPMA分析了典型ZnO压敏电阻(ZnO—MgO-Bi_2O_3-Sb_2O_3系统陶瓷)的显微结构、物相、晶界形貌、成分分布,ZnO是主晶相,添加剂是富集在颗粒边界中形成不连续的第二相。本文中,还讨论了该系统ZnO压敏陶瓷的形成机理。

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