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基于STM32的载波模块测试系统的设计
引用本文:朱肖谣,范秋华,史程程,黄凡. 基于STM32的载波模块测试系统的设计[J]. 自动化技术与应用, 2020, 39(6): 124-127. DOI: 10.3969/j.issn.1003-7241.2020.06.027
作者姓名:朱肖谣  范秋华  史程程  黄凡
作者单位:青岛大学 自动化学院,山东青岛266071,青岛大学 电气工程学院,山东青岛266071,青岛大学 自动化学院,山东青岛266071,青岛大学 自动化学院,山东青岛266071
摘    要:
为实现载波模块生产线生产的模块完好,本文设计了一种基于STM32的智能电表单相载波模块测试系统,将集中器和载波模块设计在一个装置中,模拟实际运行状态,设计中以STM32微控制器作为核心处理器,控制集中器点抄载波模块进行测试。文中给出了系统的总体设计方案,对系统的硬件设计、软件设计等做了详细的说明。测试运行结果显示,系统设计合理,操作简单。

关 键 词:载波模块  STM32  集中器  点抄

Design of Carrier Module Test System Based on STM32
ZHU Xiao-yao,FAN Qiu-hua,SHI Cheng-cheng,HUANG Fan. Design of Carrier Module Test System Based on STM32[J]. Techniques of Automation and Applications, 2020, 39(6): 124-127. DOI: 10.3969/j.issn.1003-7241.2020.06.027
Authors:ZHU Xiao-yao  FAN Qiu-hua  SHI Cheng-cheng  HUANG Fan
Abstract:
Keywords:
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