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| 国产半导体器件贮存10年的可靠性 | |
| 引用本文： | 徐爱斌.国产半导体器件贮存10年的可靠性[J].电子产品可靠性与环境试验,1994(6):69-70. |
| 作者姓名： | 徐爱斌 |
| 作者单位： | 电子部五所 广州510610 |
| 摘 要： | 电子产品的贮存可靠性正日益被人们所重视.1985年5月,美国罗姆航空发展中心颁布了一个重要文件《设备不工作期间对其可靠性的影响》.该文件提出了计算电子设备及元器件不工作期间可靠性的有关方法,其作用相当于MIL—HDBK—217《电子设备可靠性预计手册》.我国电子产品的贮存可靠性也越来越被大家所关注.近年来,电子部五所数据中心开展了我国电子设备和元器件非工作可靠性与贮存失效率有关数据的收集、研究工作,正在编制出版《电子设备及元器件非工作可靠性预计手册》. |
| 关 键 词： | 半导体器件 中国 电子设备 可靠性 贮存期 |
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