| EEPROM耐久和数据保持试验方法标准分析 |
| |
| 引用本文： | 李锟,张秋.EEPROM耐久和数据保持试验方法标准分析[J].信息技术与标准化,2012(4):62-66. |
| |
| 作者姓名： | 李锟 张秋 |
| |
| 作者单位： | 中国电子技术标准化研究院 |
| |
| 摘 要： | 介绍了存储器分类,论述非易失性存储器编程机理以及编程/擦除耐久和数据保持试验方法,分析了MIL-STD-883B中的《耐久寿命试验》和JESD22-A117《电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)编程/擦除耐久和数据保持应力试验》等试验方法标准.
|
| 关 键 词： | EEPROM 非易失件存储器 耐久 保持 标准 |
Analysis on EPPROM Program/erase Endurance and Data Retention Test Methods Standards |
| |
| Abstract: | This paper introduces memory classify,discuss non-volatile memory programming mechanism and program/erase endurance and data retention test methods,and "endurance life" of MIL-STD-883 "test method standard microcircuits" and JESD22-A117 "electrically erasable programmable ROM(EEPROM) program/Erase endurance and data retention stress test" are described. |
| |
| Keywords: | EEPROM non-volatile memory endurance retention standard |
| 本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录！ |
