首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

直流磁控溅射ZnO薄膜的结构和室温PL谱
作者姓名:叶志镇  陈汉鸿  刘榕  张昊翔  赵炳辉
作者单位:浙江大学硅材料国家重点实验室,杭州310027
基金项目:国家重点基础研究发展计划(973计划);G20000683-06;
摘    要:用直流反应磁控溅射法在硅衬底上沉积 C轴择优取向的 Zn O晶体薄膜 ,薄膜呈柱状结构 ,柱状晶直径约为10 0 nm,晶柱内为结晶性能完整的单晶 ,而晶界处存在较大的应力 .Zn O薄膜在 He- Cd激光器激发下有较强的紫外光发射 ,晶界应力引起 Zn O禁带宽度向长波方向移动 ,提高衬底温度有利于降低晶界应力和抑制深能级的绿光发射 .

关 键 词:ZnO薄膜   磁控溅射   光致发光光谱
文章编号:0253-4177(2001)08-1015-04
修稿时间:2000-07-28
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
点击此处可从《半导体学报》浏览原始摘要信息
点击此处可从《半导体学报》下载全文
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号