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InP/InGaAs SHBT器件自对准结构设计和工艺实现
引用本文:李献杰,蔡道民,赵永林,王全树,周州,曾庆明.InP/InGaAs SHBT器件自对准结构设计和工艺实现[J].半导体学报,2005,26(z1):136-139.
作者姓名:李献杰  蔡道民  赵永林  王全树  周州  曾庆明
作者单位:中国电子科技集团公司第13研究所,石家庄,050051
基金项目:国家高技术研究发展计划(863计划)
摘    要:从InP湿法腐蚀各向异性特性实验出发,利用传统的基极-发射极自对准工艺和改进的基极-发射极工艺制作了两种InP/InGaAs SHBT自对准结构,比较了两种自对准工艺对减小基极与发射极台面间距的效果,为制作高频率特性InP/InGaAs SHBT提供了工艺途径.

关 键 词:InP  SHBT  自对准工艺  湿法腐蚀  InGaAs  器件  自对准结构  结构设计  工艺制作  Process  Design  频率特性  效果  间距  比较  改进  自对准工艺  发射极  基极  利用  特性实验  湿法腐蚀
文章编号:0253-4177(2005)S0-0136-04
修稿时间:2004年11月12日

Design and Process for Self-Aligned InP/InGaAs SHBT Structure
Li Xianjie,Cai Daomin,Zhao Yonglin,Wang Quanshu,Zhou Zhou,Zeng Qingming.Design and Process for Self-Aligned InP/InGaAs SHBT Structure[J].Chinese Journal of Semiconductors,2005,26(z1):136-139.
Authors:Li Xianjie  Cai Daomin  Zhao Yonglin  Wang Quanshu  Zhou Zhou  Zeng Qingming
Abstract:
Keywords:
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