| 一种兼容测距成像的256×256图像传感器控制器 |
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| 引用本文： | 陈哲,底杉,石匆,刘力源,吴南健.一种兼容测距成像的256×256图像传感器控制器[J].半导体学报,2014,35(10):105007-6. |
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| 作者姓名： | 陈哲 底杉 石匆 刘力源 吴南健 |
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| 摘 要： | 本文提出了一种兼容测距成像的图像传感器控制器，其测距原理基于采用连续波调制的飞行时间测距技术。控制器用于产生256×256高速CMOS图像传感器所需的可配置控制信号。图像传感器具有普通成像和测距成像两种工作模式，在两种工作模式下，通过配置参数产生的控制时序可以实现行滚动曝光与数字域的相关双采样。在逻辑电路级采用优化的设计方法，使得芯片面积和功耗得到优化。图像传感器控制器采用0.18 μm CMOS标准工艺制造，芯片面积为700×3380 μm2。在1.8 V供电电压和100 MHz工作频率下，由综合工具估算出的动态功耗为65 mW。测试结果验证了图像传感器控制器产生控制时序的功能。
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| 关 键 词： | CMOS图像传感器 距离测量 飞行时间 |
A reconfigurable 256 × 256 image sensor controller that is compatible for depth measurement |
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| Chen Zhe,Di Shan,Shi Cong,Liu Liyuan and Wu Nanjian.A reconfigurable 256 × 256 image sensor controller that is compatible for depth measurement[J].Chinese Journal of Semiconductors,2014,35(10):105007-6. |
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| Authors: | Chen Zhe Di Shan Shi Cong Liu Liyuan and Wu Nanjian |
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| Affiliation: | State Key Laboratory for Superlattices and Microstructures, Institute of Semiconductors, Chinese Academy of Sciences, Beijing 100083, China;State Key Laboratory for Superlattices and Microstructures, Institute of Semiconductors, Chinese Academy of Sciences, Beijing 100083, China;State Key Laboratory for Superlattices and Microstructures, Institute of Semiconductors, Chinese Academy of Sciences, Beijing 100083, China;State Key Laboratory for Superlattices and Microstructures, Institute of Semiconductors, Chinese Academy of Sciences, Beijing 100083, China;State Key Laboratory for Superlattices and Microstructures, Institute of Semiconductors, Chinese Academy of Sciences, Beijing 100083, China |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | CMOS image sensor depth measurement time-of-flight |
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