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S-Band 1mm SiC MESFET with 2W Output on Semi-Insulated SiC Substrate
作者姓名:Cai Shujun  Pan Hongshu  Chen Hao  Li Liang  Zhao Zhenping
作者单位:河北半导体研究所,石家庄 050051;河北半导体研究所,石家庄 050051;河北半导体研究所,石家庄 050051;河北半导体研究所,石家庄 050051;河北半导体研究所,石家庄 050051
摘    要:介绍了用热壁反应炉在50mm SiC半绝缘衬底上制备的SiC MESFET外延材料.其沟道层厚度约为0.35μm,掺杂浓度约为1.7×1017cm-3.沟道和衬底之间的缓冲层为非有意掺杂的弱n型.欧姆接触用的帽层掺杂浓度约1019cm-3.器件制备采用了ICP刻蚀等技术.微波测试结果表明,1mm栅宽功率器件封装后在2GHz下输出功率达到了2W.

关 键 词:碳化硅  微波  功率  MESFET  MESFET  SiC  buffer  layer  半绝缘  波段  碳化硅  SiC  MESFET  Substrate  Output  Power  gate  width  output  devices  coupled  plasma  etching  conventional  tools  Ohmic  contact  doped  buffer  layer  thickness  doping
文章编号:0253-4177(2006)02-0266-04
收稿时间:10 31 2005 12:00AM
修稿时间:2005年10月31日

S-Band 1mm SiC MESFET with 2W Output on Semi-Insulated SiC Substrate
Cai Shujun,Pan Hongshu,Chen Hao,Li Liang,Zhao Zhenping.S-Band 1mm SiC MESFET with 2W Output on Semi-Insulated SiC Substrate[J].Chinese Journal of Semiconductors,2006,27(2):266-269.
Authors:Cai Shujun  Pan Hongshu  Chen Hao  Li Liang and Zhao Zhenping
Affiliation:Hebei Semiconductor Research Institute,Shijiazhuang 050051,China;Hebei Semiconductor Research Institute,Shijiazhuang 050051,China;Hebei Semiconductor Research Institute,Shijiazhuang 050051,China;Hebei Semiconductor Research Institute,Shijiazhuang 050051,China;Hebei Semiconductor Research Institute,Shijiazhuang 050051,China
Abstract:
Keywords:MESFET  SiC  buffer layer
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