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AlGaN基PIN光电探测器的模型与模拟
引用本文:张春福,郝跃,张金凤,龚欣.AlGaN基PIN光电探测器的模型与模拟[J].半导体学报,2005,26(8):1610-1615.
作者姓名:张春福  郝跃  张金凤  龚欣
作者单位:西安电子科技大学微电子所,宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室,西安,710071;西安电子科技大学微电子所,宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室,西安,710071;西安电子科技大学微电子所,宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室,西安,710071;西安电子科技大学微电子所,宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室,西安,710071
基金项目:国家重点基础研究发展计划(973计划)
摘    要:在漂移扩散方程的基础上建立了AlGaN p-I-n光电探测器的物理模型,分析了多种结构AlGaN p-I-n光电探测器的光谱响应,并讨论了AlGaN/GaN异质结界面极化效应对太阳盲区p-GaN/I-Al0.33Ga0.67N/n-GaN倒置异质结结构p-I-n光电探测器(inverted heterostructure photodetectors,IHPs)UV/Solar选择比(280nm与320nm响应度之比)的影响.结果表明:优化p层是提高器件光谱响应的有效途径;为获得较高的UV/Solar选择比,光伏模式(零偏压)为太阳盲区p-GaN/I-Al0.33Ga0.67N/n-GaN IHPs的最佳工作模式;在光伏模式下考虑极化效应影响时,Ga面p-GaN/I-Al0.33Ga0.67N/n-GaN IHPs器件的UV/Solar选择比可达750,与Tarsa等人报道的三个量级的实验结果基本一致.

关 键 词:pin光电探测器  光谱响应  太阳盲区  UV/solar选择比  极化效应
文章编号:0253-4177(2005)08-1610-06
收稿时间:2005-01-21
修稿时间:2005-03-22

Model and Simulation of GaN Based PIN Photodetectors
ZHANG Chunfu,Hao Yue,Zhang Jinfeng,Gong Xin.Model and Simulation of GaN Based PIN Photodetectors[J].Chinese Journal of Semiconductors,2005,26(8):1610-1615.
Authors:ZHANG Chunfu  Hao Yue  Zhang Jinfeng  Gong Xin
Abstract:
Keywords:p-i-n photodetector  spectral responsivity  solar-blind  UV/solar rejection ratios  polarization  
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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