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高分辨力闭环微加速度计接口电路
引用本文:尹亮,刘晓为,陈伟平,周治平.高分辨力闭环微加速度计接口电路[J].半导体学报,2011,32(4):045005-8.
作者姓名:尹亮  刘晓为  陈伟平  周治平
作者单位:哈尔滨工业大学MEMS中心
基金项目:国家高技术研究发展计划
摘    要:本文报道一种电容式闭环微加速度计的低噪声、开关电容CMOS接口电路。采用相同电极分时复用的方法,从而避免电容敏感与静电力反馈的馈通现象。并设计PID电路保证真空封装的高Q值加速度计的闭环稳定性及动态响应特性。整体电路结构只需单端放大器,传输门和电容。测试结果显示,接口电路工作在±5V条件下,整体微加速度计具有±3g满量程,非线性0.05%,800Hz带宽,刻度因子为1.2V/g,噪声密度为0.8μg/ 。芯片采用2um 双金属双多晶N阱CMOS工艺加工,芯片面积15.2 mm2。测试结果证明,本文电路达到高精度微加速度计系统设计要求,可以应用到地震监测、石油勘探等领域中。

关 键 词:电容式加速度计  接口电路  闭环  高分辨率  CMOS工艺  时分多路复用  PID控制器  运行电容
收稿时间:9/3/2010 10:51:02 PM

High resolution interface circuit for closed-loop accelerometer
Yin Liang,Liu Xiaowei,Chen Weiping and Zhou Zhiping.High resolution interface circuit for closed-loop accelerometer[J].Chinese Journal of Semiconductors,2011,32(4):045005-8.
Authors:Yin Liang  Liu Xiaowei  Chen Weiping and Zhou Zhiping
Affiliation:Department of Microelectronics, Harbin Institute of Technology, Harbin 150001, China;Department of Microelectronics, Harbin Institute of Technology, Harbin 150001, China; Key Laboratory of Micro-Systems and Micro-Structures Manufacturing, Ministry of Education, Harbin 150001, China;Department of Microelectronics, Harbin Institute of Technology, Harbin 150001, China; Key Laboratory of Micro-Systems and Micro-Structures Manufacturing, Ministry of Education, Harbin 150001, China;Department of Microelectronics, Harbin Institute of Technology, Harbin 150001, China
Abstract:
Keywords:closed-loop accelerometer  interface circuit  switched capacitor  low noise
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