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用模拟退火算法从S参数提取HFET小信号等效电路模型参数
引用本文:陈俊,刘训春.用模拟退火算法从S参数提取HFET小信号等效电路模型参数[J].半导体学报,2001,22(1):79-82.
作者姓名:陈俊  刘训春
作者单位:中国科学院微电子研究和发展中心,北京100029
摘    要:微波集成电路和微波器件的设计需要准确地提取 HFET的小信号等效电路模型参数 .采用带回火的模拟退火算法从 S参数提取 HFET小信号等效电路模型参数 ,得到了高质量的解 .计算结果是全局最优解 ,摆脱了初始值的影响 ,并且克服了局部优化算法遇到的不收敛或收敛到错误解的问题 .利用测量得到的栅电阻 ,计算结果的精度可以进一步提高 .这个算法同样也适用于 HBT、电容和电感等器件模型参数的提取

关 键 词:参数提取    模拟退火算法    HFET    S参数    小信号等效电路
文章编号:0253-4177(2001)01-0079-04
修稿时间:1999年8月4日

HFET Small Signal Model Extraction from S Parameters Using Simulated Annealing Algorithm
CHEN Jun and LIU Xun- chun.HFET Small Signal Model Extraction from S Parameters Using Simulated Annealing Algorithm[J].Chinese Journal of Semiconductors,2001,22(1):79-82.
Authors:CHEN Jun and LIU Xun- chun
Abstract:In the design of microwave devices and integrated circuits,it is very im portant to extract the HFET small signal equalized circuit m odel accurately.The solution of HFET model extraction with high quality using the simulated annealing al- gorithm is obtained.The solution is the global optim um without any influence of the initial value on it.What's m ore,the method avoids the non- unique solution occuring frequently when the local optim um algorithm is used.Provided that the value of gate resistance is acquired from measurement,the precision of the solution can be improved further.The m ethod can also be used to extract the m odel param eters of HBT,capacitor and inductor.
Keywords:parameter extraction  simulated annealing algorithm  HFET  S parameter  sm all signal equivalent circuit m ode
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