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UHV/CVD外延生长SiGe/Si表面反应动力学
引用本文:于卓,李代宗,成步文,黄昌俊,雷震霖,余金中,王启明,梁骏吾.UHV/CVD外延生长SiGe/Si表面反应动力学[J].半导体学报,2000,21(6).
作者姓名:于卓  李代宗  成步文  黄昌俊  雷震霖  余金中  王启明  梁骏吾
作者单位:中国科学院半导体研究所,集成光电子国家重点联合实验室,北京,100083
基金项目:国家科技攻关项目,中国科学院资助项目
摘    要:利用SiH4和GeH4作为源气体,对UHV/CVD生长Si1-xGex/Si外延层的表面反应机理进行了研究,通过TPD、RHEED等实验观察了Si(100)表面SiH4的饱和吸附、热脱附过程,得出SiH4的分解应该是每个SiH4分子的4个H原子全部都吸附到了Si表面,SiH4的吸附率正比于表面空位的4次方,并分析了GeH4的表面吸附机制.在此基础上建立了UHV/CVD生长Si1-xGex/Si的表面反应动力学模型,利用模型对实验结果进行了模拟,二者符合得很好.

关 键 词:SiGe/Si  UHV/CVD  生长  动力学

Surface Reaction Mechanism of SiGe/Si Growth by UHV/CVD
YU Zhuo,LI Dai-zong,CHENG Bu-wen,HUANG Chang-jun,LEI Zhen-lin,YU Jin-zhong,WANG Qi-ming,LIANG Jun-wu.Surface Reaction Mechanism of SiGe/Si Growth by UHV/CVD[J].Chinese Journal of Semiconductors,2000,21(6).
Authors:YU Zhuo  LI Dai-zong  CHENG Bu-wen  HUANG Chang-jun  LEI Zhen-lin  YU Jin-zhong  WANG Qi-ming  LIANG Jun-wu
Abstract:
Keywords:
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