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硼原子对Si(100)衬底上Ge量子点生长的影响
引用本文:周星飞,施斌,蒋伟荣,胡冬枝,樊永良,龚大卫,张翔九,蒋最敏.硼原子对Si(100)衬底上Ge量子点生长的影响[J].半导体学报,2000,21(8).
作者姓名:周星飞  施斌  蒋伟荣  胡冬枝  樊永良  龚大卫  张翔九  蒋最敏
作者单位:复旦大学应用表面物理国家重点实验室,上海,200433
基金项目:国家自然科学基金,教育部高校骨干教师资助计划,国家高技术研究发展计划(863计划)
摘    要:研究了硼原子对Si(100)衬底上Ge量子点自组织生长的影响.硼原子的数量由0单原子层变到0.3单原子层.原子力显微镜的观察表明,硼原子不仅对量子点的大小,而且对其尺寸均匀性及密度都有很大影响.当硼原子的数量为0.2单原子层时,获得了底部直径为60±5nm,面密度为6×109cm-2,且均匀性很好的Ge量子点.另外,还简单讨论了硼原子对Ge量子点自组织生长影响的机制.

关 键 词:量子点  Ge  生长

Influence of Boron Atom on Growth of Ge Quantum Dots on Si(100)
ZHOU Xing-fei,SHI Bin,JIANG Wei-rong,HU Dong-zhi,FAN Yong-liang,GONG Da-wei,ZHANG Xiang-jiu,JIANG Zui-min.Influence of Boron Atom on Growth of Ge Quantum Dots on Si(100)[J].Chinese Journal of Semiconductors,2000,21(8).
Authors:ZHOU Xing-fei  SHI Bin  JIANG Wei-rong  HU Dong-zhi  FAN Yong-liang  GONG Da-wei  ZHANG Xiang-jiu  JIANG Zui-min
Abstract:
Keywords:
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