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TiO2薄膜制备及其氧敏特性
引用本文:戴振清,孙以材,潘国峰,孟凡斌,李国玉.TiO2薄膜制备及其氧敏特性[J].半导体学报,2005,26(2).
作者姓名:戴振清  孙以材  潘国峰  孟凡斌  李国玉
作者单位:河北工业大学微电子研究所,天津,300130;河北科技师范学院数理系,秦皇岛,066600;河北工业大学微电子研究所,天津,300130
摘    要:采用直流磁控溅射法制备TiO2薄膜,在不同温度下对薄膜进行退火,研究了薄膜晶体结构随退火温度的转化情况.对TiO2薄膜氧敏器件特性进行了测试,结果表明,在400℃下灵敏度随氧分压增加最快,并且在400℃具有最高的灵敏度.得到的激活能为0.41eV,并对TiO2薄膜氧敏器件的氧敏可逆性进行了讨论.

关 键 词:磁控溅射  TiO2薄膜  氧敏特性  激活能

Preparation of TiO2 Thin Films and Their Oxygen-Sensing Properties
Dai Zhenqing,SUN Yicai,Pan Guofeng,Meng Fanbin,Li Guoyu.Preparation of TiO2 Thin Films and Their Oxygen-Sensing Properties[J].Chinese Journal of Semiconductors,2005,26(2).
Authors:Dai Zhenqing  SUN Yicai  Pan Guofeng  Meng Fanbin  Li Guoyu
Abstract:
Keywords:
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