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高压 Ti/ 6H- SiC肖特基势垒二极管
引用本文:王姝睿,刘忠立,李国花,于芳,刘焕章.高压 Ti/ 6H- SiC肖特基势垒二极管[J].半导体学报,2001,22(8):962-966.
作者姓名:王姝睿  刘忠立  李国花  于芳  刘焕章
作者单位:中国科学院半导体研究所,
摘    要:在 N型 6 H - Si C外延片上 ,通过热蒸发 ,制作 Ti/ 6 H- Si C肖特基势垒二极管 (SBD) .通过化学气相淀积 ,进行同质外延生长 ,详细测量并分析了肖特基二极管的电学特性 ,该肖特基二极管具有较好的整流特性 .反向击穿电压约为 40 0 V,室温下 ,反向电压 VR=2 0 0 V时 ,反向漏电流 JR 低于 1e- 4 A / cm2 .采用 Ne离子注入形成非晶层 ,作为边缘终端 ,二极管的击穿电压增加到约为 80 0 V.

关 键 词:碳化硅    肖特基势垒二极管    6H-Si
文章编号:0253-4177(2001)08-0962-05
修稿时间:2001年2月16日

High-Voltage Ti/6H-SiC Schottky Barrier Diodes
WANG Shu-rui,LIU Zhong-li,LI Guo-hua,YU Fang and LIU Huan-zhang.High-Voltage Ti/6H-SiC Schottky Barrier Diodes[J].Chinese Journal of Semiconductors,2001,22(8):962-966.
Authors:WANG Shu-rui  LIU Zhong-li  LI Guo-hua  YU Fang and LIU Huan-zhang
Abstract:
Keywords:silicon carbide  Sc hottky barrier diode  6H-SiC
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