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前处理蓝宝石衬底上生长高质量GaN薄膜
引用本文:彭冬生,冯玉春,牛憨笨.前处理蓝宝石衬底上生长高质量GaN薄膜[J].半导体学报,2007,28(Z1).
作者姓名:彭冬生  冯玉春  牛憨笨
作者单位:1. 深圳大学光电子学研究所,深圳,518060;中国科学院西安光学精密机械研究所,西安,710068;中国科学院研究生院,北京,100049
2. 深圳大学光电子学研究所,深圳,518060
基金项目:广东省自然科学基金,广东省关键领域重点突破项目,广东省深圳市科技计划
摘    要:采用化学方法腐蚀部分c面蓝宝石衬底,在腐蚀区域形成一定的图案,利用LP-MOCVD在经过表面处理的蓝宝石衬底上外延生长GaN薄膜.采用高分辨率双晶X射线衍射(DCXRD)、透射光谱分析GaN薄膜的晶体质量和光学质量.分析结果表明,GaN薄膜透射谱反映出的GaN质量与X射线双晶衍射测量的结果一致,即透射率越大,半高宽越小,结晶质量越好;对蓝宝石衬底进行前处理可以大大改善GaN薄膜的晶体质量和光学质量,其(0002)面及(1012)面XRD半高宽(FWHM)分别降低到208.80"及320.76"

关 键 词:前处理  MOCVD  GaN薄膜

High Quality GaN Films Growth on Pre-Treated Sapphire Substrate
Peng Dongsheng,Feng Yuchun,Niu Hanben.High Quality GaN Films Growth on Pre-Treated Sapphire Substrate[J].Chinese Journal of Semiconductors,2007,28(Z1).
Authors:Peng Dongsheng  Feng Yuchun  Niu Hanben
Abstract:
Keywords:
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