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直流反应磁控溅射Al,N共掺方法生长p型ZnO薄膜及其特性
引用本文:袁国栋,叶志镇,曾昱嘉,吕建国,钱庆,黄靖云,赵炳辉,朱丽萍.直流反应磁控溅射Al,N共掺方法生长p型ZnO薄膜及其特性[J].半导体学报,2004,25(6):668-673.
作者姓名:袁国栋  叶志镇  曾昱嘉  吕建国  钱庆  黄靖云  赵炳辉  朱丽萍
作者单位:浙江大学硅材料国家重点实验室 杭州310027 (袁国栋,叶志镇,曾昱嘉,吕建国,钱庆,黄靖云,赵炳辉),浙江大学硅材料国家重点实验室 杭州310027(朱丽萍)
基金项目:国家重点基础研究发展计划(973计划) , 国家自然科学基金
摘    要:报道了利用直流反应磁控溅射以Al,N共掺杂技术生长p型ZnO薄膜 .ZnO薄膜在不同衬底温度下沉积于α Al2 O3 (0 0 0 1)衬底上 ,N来自NH3 与O2 的生长气氛 ,Al来自ZnxAl1-x(x =0 9)靶材 .利用XRD ,AFM ,Hall,SIMS和透射光谱对其性能进行了研究 .结果表明 ,ZnO薄膜具有高度c轴择优取向 ,4 5 0℃、6 0 0℃分别实现了p型转变 ,电阻率为 1e2 ~ 1e3 Ω·cm ,载流子浓度为 1e15~ 1e16cm-3 ,迁移率为 0.5~ 1.32cm2 / (V·s) .薄膜中Al原子促进了N原子的掺入 .实验还表明 ,p ZnO薄膜在可见光区域具有很高的透射率 (约为 90 % ) ,室温下光学带宽为 3 2 8eV

关 键 词:Al  N共掺杂技术    p-ZnO    直流反应磁控溅射
文章编号:0253-4177(2004)06-0668-06
修稿时间:2003年5月21日

Preparation and Characteristics of p-Type ZnO Films Using Al and N Codoping Method by DC Reactive Magnetron Sputtering
Abstract:
Keywords:Al and N codoping method  p-ZnO  DC reactive magnetron sputtering
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