| 单晶晶胞参数的X射线双晶衍射测定方法 |
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| 引用本文： | 李润身,朱南昌.单晶晶胞参数的X射线双晶衍射测定方法[J].半导体学报,1990,11(10):759-767. |
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| 作者姓名： | 李润身 朱南昌 |
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| 作者单位： | 中国科学院上海冶金研究所
(李润身)，中国科学院上海冶金研究所(朱南昌) |
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| 摘 要： | 作者提出一种以已知晶胞参数的单晶为参考标准测定样品单晶晶胞参数的方法。测定结果包括晶胞参数a、b、c、α、β、γ及样品相对参考晶体的取向。对测量中可能产生的误差进行了讨论并介绍了提高测量精度的方法。对GaSb_xAs_(1-x)/GaAs(x=0.97)样品测定的结果表明,GaSb_xAs_(1-x)晶胞已不再是严格的立方结构。
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| 关 键 词： | 晶胞参数 测量 X射线衍射 单晶 |
Measurement of Unit Cell Parameters in Single Crystal by Double-Crystal Diffraction |
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| Li Runshen/.Measurement of Unit Cell Parameters in Single Crystal by Double-Crystal Diffraction[J].Chinese Journal of Semiconductors,1990,11(10):759-767. |
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| Authors: | Li Runshen/ |
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| Affiliation: | Li Runshen/Shanghai Institute of Metallurgy,Academia Sinica,Shanghai
Zhu Nanchang/Shanghai Institute of Metallurgy,Academia Sinica,Shanghai |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Unit cell parameters Double-crystal diffraction X-ray diffraction |
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