首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

新型静电泄放保护电路设计方法
引用本文:王源,陈中建,贾嵩,鲁文高,傅一玲,吉利久.新型静电泄放保护电路设计方法[J].半导体学报,2007,28(7):1156-1160.
作者姓名:王源  陈中建  贾嵩  鲁文高  傅一玲  吉利久
作者单位:北京大学微电子研究院,北京,100871;北京大学微电子研究院,北京,100871;北京大学微电子研究院,北京,100871;北京大学微电子研究院,北京,100871;北京大学微电子研究院,北京,100871;北京大学微电子研究院,北京,100871
摘    要:提出了一种新的静电泄放(electrostatic discharge,ESD)保护电路设计方法.相比传统以经验为基础、采用电路设计和硅片验证之间反复实验的ESD设计方法,新方法降低了成本,缩短了设计周期.利用该方法完成了一套基于0.5μm CMOS工艺、带ESD保护电路的输入输出单元库设计,该单元库通过了5kV的人体模型ESD测试.

关 键 词:静电泄放  人体模型  MOSFET  输人输出单元库
文章编号:0253-4177(2007)07-1156-05
修稿时间:3/14/2007 5:14:24 PM

Novel Electrostatic Discharge Protection Design Method
Wang Yuan,Chen Zhongjian,Jia Song,Lu Wengao,Fu Yiling and Ji Lijiu.Novel Electrostatic Discharge Protection Design Method[J].Chinese Journal of Semiconductors,2007,28(7):1156-1160.
Authors:Wang Yuan  Chen Zhongjian  Jia Song  Lu Wengao  Fu Yiling and Ji Lijiu
Affiliation:Institute of Microelectronics,Peking University,Beijing 100871,China;Institute of Microelectronics,Peking University,Beijing 100871,China;Institute of Microelectronics,Peking University,Beijing 100871,China;Institute of Microelectronics,Peking University,Beijing 100871,China;Institute of Microelectronics,Peking University,Beijing 100871,China;Institute of Microelectronics,Peking University,Beijing 100871,China
Abstract:
Keywords:electrostatic discharge  human body model  MOSFET  input/output cell library
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
点击此处可从《半导体学报》浏览原始摘要信息
点击此处可从《半导体学报》下载全文
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号