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GSMBE生长的高质量氮化镓材料
引用本文:孙殿照,王晓亮,王军喜,刘宏新,刘成海,曾一平,李晋闽,侯洵,林兰英.GSMBE生长的高质量氮化镓材料[J].半导体学报,2000,21(7):723-725.
作者姓名:孙殿照  王晓亮  王军喜  刘宏新  刘成海  曾一平  李晋闽  侯洵  林兰英
作者单位:中国科学院半导体研究所材料中心!北京100083,中国科学院半导体研究所材料中心!北京100083,中国科学院半导体研究所材料中心!北京100083,中国科学院半导体研究所材料中心!北京100083,中国科学院半导体研究所材料中心!北京100083,中国科学院半导体研究所材料中心!北京100083,中
摘    要:使用NH3作氮源,采用GSMBE方法在(0001)Al2O3衬底上生长出了高质量的GaN单晶外延膜.1.2μm厚的GaN外延膜的(0002)X射线双晶衍射峰回摆曲线的半高宽为6′,室温电子迁移率为300cm2/(V·s),背景电子浓度约为3e17cm-3.

关 键 词:氮化镓    分子束外延
文章编号:0253-4177(2000)07-0723-03
修稿时间:2000-03-30

High Quality GaN Grown by GSMBE
SUN Dian\|zhao,WANG Xiao\|liang,WANG Jun\|xi,LIU Hong\|xin,LIU Cheng\|hai,ZENG Yi\|ping,LI Jin\|min,HOU Xun\ and LIN Lan\|ying.High Quality GaN Grown by GSMBE[J].Chinese Journal of Semiconductors,2000,21(7):723-725.
Authors:SUN Dian\|zhao  WANG Xiao\|liang  WANG Jun\|xi  LIU Hong\|xin  LIU Cheng\|hai  ZENG Yi\|ping  LI Jin\|min  HOU Xun\ and LIN Lan\|ying
Affiliation:SUN Dian-zhao ,WANG Xiao-liang ,WANG Jun-xi ,LIU Hong-xin ,LIU Cheng-hai ,ZENG Yi-ping (Institute of Semiconductors, The Chinese Academy of Sciences, Beijing 100083, China)
Abstract:
Keywords:GaN  MBE
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