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| 用于SOC测试的一种有效的BIST方法 | |
| 引用本文： | 须自明, 刘战, 王国章, 于宗光,.用于SOC测试的一种有效的BIST方法[J].电子器件,2007,30(4):1152-1154. |
| 作者姓名： | 须自明 刘战 王国章 于宗光 |
| 作者单位： | 1. 江南大学信息工程学院,江苏,无锡,214000;中国电子科技集团第五十八研究所,江苏,无锡,214035 2. 江南大学信息工程学院,江苏,无锡,214000 3. 中国电子科技集团第五十八研究所,江苏,无锡,214035;江南大学信息工程学院,江苏,无锡,214000 4. 中国电子科技集团第五十八研究所,江苏,无锡,214035 |
| 摘 要： | 为了提高SOC芯片的可测性和可靠性,我们提出了一种SOC测试的BIST技术的实现方案.针对某所自行研制的数字模拟混合信号SOC芯片,我们使用了不同的可测性技术.比如对模拟模块使用改进的BIST方法,对嵌入式存储器使用了MBIST技术.一系列的测试实验数据表明,该BIST方法能有效提高测试覆盖率. |
| 关 键 词： | system-on-a-chip BIST |
| 文章编号： | 1005-9490（2007）04-1152-03 |
| 修稿时间： | 2006-09-08 |
An Efficient BIST Approach for Testing SOC |
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| XU Zi-ming,LIU Zhan,WANG Guo-zhang,YU Zong-guang.An Efficient BIST Approach for Testing SOC[J].Journal of Electron Devices,2007,30(4):1152-1154. | |
| Authors: | XU Zi-ming LIU Zhan WANG Guo-zhang YU Zong-guang |
| Affiliation: | 1. SIT of Southern Yangtze University , Wuxi Jiangsu 214000, China; 2.China Electronics Technology Group Corporation No. 58 Research Institute ,Wuxi Jiangsu 214035, China |
| Abstract: | We describe the implementation of BIST technique,which is applied to enhance the reliability of System-on-a-chip.In order to enhance the reliability of SOC,we adopt the BIST technique for analog modules,which have a complicate logic.For embedded data and program memory,we adopt the MBlST technique.The boundary scan technique to provide a board-level testing and to control BIST logic has been also implemented. |
| Keywords: | system-on-a-chip BIST system-on-a-chip BIST |
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