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薄膜表面直接四光束激光干涉制备复眼的研究
引用本文:张海鑫,陈旭浪,张鲁佳,刘光泽,张金金,王大鹏,王作斌.薄膜表面直接四光束激光干涉制备复眼的研究[J].光电子.激光,2014(12):2283-2287.
作者姓名:张海鑫  陈旭浪  张鲁佳  刘光泽  张金金  王大鹏  王作斌
作者单位:长春理工大学 国家纳米操纵与制造国际联合研究中心,吉林 长春 ,130022;长春理工大学 国家纳米操纵与制造国际联合研究中心,吉林 长春 ,130022;长春理工大学 国家纳米操纵与制造国际联合研究中心,吉林 长春 ,130022;长春理工大学 国家纳米操纵与制造国际联合研究中心,吉林 长春 ,130022;长春理工大学 国家纳米操纵与制造国际联合研究中心,吉林 长春 ,130022;长春理工大学 国家纳米操纵与制造国际联合研究中心,吉林 长春 ,130022;长春理工大学 国家纳米操纵与制造国际联合研究中心,吉林 长春 ,130022
基金项目:国家重点基础研究发展计划“973”计划(2012CB326406)、教育部博士学科点专项基金(2011221640002)和大学生创新创业训练计划(2013S001)资助项目 (长春理工大学 国家纳米操纵与制造国际联合研究中心,吉林 长春 ,130022)
摘    要:基于四光束激光干涉光刻技术,在薄膜表面实现 了四光束激光直接干涉光刻制备微纳复眼结 构,为激光干涉 光刻研究提供了一个新的应用方向。对于多层复合薄膜,激光干涉光刻的效果与薄膜的透光 率相关, 即在一定范围内,透光率影响光刻结构的形成。在保持四光束激光干涉光刻系统波长和 入射角度不变 的条件下,通过改变能量得到不同尺寸的周期性孔阵结构,与复眼结构一致,发现透光率分 别为5%、30%和75%的薄膜在20~30mJ曝光时均可形成清晰的周期复眼 结构,且在25mJ时最为明显。在700~1200nm 波段使用反射率测试系统对光刻前后透光 率为5%、30%和75%的薄膜进行了反射率测试,测试结果表明经光刻后形成的结构反射率普遍 降低,可以在薄膜表面实现减反特性。

关 键 词:干涉光刻    复眼结构    薄膜
收稿时间:2014/8/28 0:00:00

Fabrication of fly-eye structures on thin films by direct four-beam laser interference lithography
Affiliation:International Research Centre for Nano Handling and Manufacturing of China,Cha ngchun University of Science and Technology,Changchun 130022,China;International Research Centre for Nano Handling and Manufacturing of China,Cha ngchun University of Science and Technology,Changchun 130022,China;International Research Centre for Nano Handling and Manufacturing of China,Cha ngchun University of Science and Technology,Changchun 130022,China;International Research Centre for Nano Handling and Manufacturing of China,Cha ngchun University of Science and Technology,Changchun 130022,China;International Research Centre for Nano Handling and Manufacturing of China,Cha ngchun University of Science and Technology,Changchun 130022,China;International Research Centre for Nano Handling and Manufacturing of China,Cha ngchun University of Science and Technology,Changchun 130022,China;International Research Centre for Nano Handling and Manufacturing of China,Cha ngchun University of Science and Technology,Changchun 130022,China
Abstract:
Keywords:interference lithography  fly-eye structure  thin film
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