| 液氦薄膜表面电子—涟波子系统的性质 |
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| 引用本文： | 肖玮,肖景林,等.液氦薄膜表面电子—涟波子系统的性质[J].光电子．激光,2001,12(2):197-199. |
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| 作者姓名： | 肖玮 肖景林 |
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| 作者单位： | 1. 北京信息工程学院，北京 100101
2. 中国科学院激发态物理开放研究实验室，吉林 长春 130021;内蒙古民族师范学院，内蒙古 通辽 028043 |
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| 基金项目： | 内蒙古自然科学基金资助项目! ( 980 32 ) |
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| 摘 要： | 本文研究液氦薄膜表面电子与涟波子弱耦合的性质，采用线性组合算符和微扰法导出电子－涟波子系统的基态能量。当计及电子在反冲效应中发射和吸收不同波矢 的涟波子之间相互作用时，讨论对电子－涟波子系统基态能量的影响。
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| 关 键 词： | 液氦薄膜 表面电子 涟波子系统 量子光学 |
| 文章编号： | 1005-0086(2001)02-0197-03 |
| 修稿时间： | 2000年5月11日 |
Properties of the Surface Electron ripplon System on Films of Liquid Helium |
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| XIAO Wei,XIAO Jing lin.Properties of the Surface Electron ripplon System on Films of Liquid Helium[J].Journal of Optoelectronics·laser,2001,12(2):197-199. |
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| Authors: | XIAO Wei XIAO Jing lin |
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| Affiliation: | XIAO Wei 1,XIAO Jing lin 2,3 |
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| Abstract: | In this paper,the properties of the surface electron weaklycoupled with ripplon on films of liquid helium are studied.The ground state energy of the electron-ripplon system was derived by using linear combination operator and perturbation method.If we consider the interaction between ripplons of different wave vectors in the recoil process,the influency on the ground state energy of the electron-ri-pplon system was discussed. |
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| Keywords: | films of liquid helium ripplon ground state energy |
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