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MOCVD生长高反射率AIN/GaN分布布拉格反射镜
引用本文:尚景智,张保平,吴超敏,蔡丽娥,张江勇,余金中,王启明.MOCVD生长高反射率AIN/GaN分布布拉格反射镜[J].光电子.激光,2008,19(12).
作者姓名:尚景智  张保平  吴超敏  蔡丽娥  张江勇  余金中  王启明
作者单位:[1]厦门大学物理系、半导体光子学研究中心,福建厦门361005 [2]中国科学院半导体研究所集成光电子学国家联合重点实验室,北京100083
摘    要:利用金属有机物化学气相沉积(MOCVD)方法在蓝宝石c面衬底上制备出高反射率A1N/GaN分布布拉格反射镜(DBR)。利用分光光度计测量,在418nm附近最大反射率达到99%。样品表面显微照片显示,有圆弧形缺陷和少量裂纹出现;在缺陷和裂纹以外的区域,DBR具有较为平坦的表面,其粗糙度在10μm×10μm面积上为3.3nm左右。样品的截面扫描电镜(SEM)照片显示,DBR具有良好的周期性。对反射率和表面分析的结果表明,该样品达到了制备GaN基垂直腔面发射激光器(VCSEL)的要求。

关 键 词:金属有机物化学气相沉积(MOCVD)  分布布拉格反射镜(DBR)  高反射率  氮化物
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