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用表面等离子体谐振(SPR)测量物质的折射率
引用本文:赵杰,崔大付.用表面等离子体谐振(SPR)测量物质的折射率[J].光电子.激光,1999,10(1):40-41.
作者姓名:赵杰  崔大付
作者单位:中国科学院电子学研究所,北京,100080
摘    要:本文介绍一种用表面等离子体谐振间接测量物质折射率的新方法。从理论上对这种方法作了论证,运用这种方法对LB膜做了测试实验,推算出其折射率,并且分析了这种方法适用特点。

关 键 词:表面等离子体谐振  LB膜  谐振角  介电系数  绝对折射率
修稿时间:1998-08-20

Determination of Refractive Index by Surface Plasmon Resonance
Zhao,Jie,Cui,Dafu,Han,Jinghong.Determination of Refractive Index by Surface Plasmon Resonance[J].Journal of Optoelectronics·laser,1999,10(1):40-41.
Authors:Zhao  Jie  Cui  Dafu  Han  Jinghong
Abstract:A new method (Surface Plasmon Resonance) is introduced which can be used to determine indirectly refractive index in this paper.The theory of this method is given.The method is used to determine resonance angles of different layers of LB film,then their refractive indexes are calculated.Finally applied characteristics of the method is explained.
Keywords:surface  plasmon  resonance  LB  film  dielectric  constant  absolute  refractive  index
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