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氧氩流量比对RF溅射ZnO:Mg薄膜结构及光学性能的影响
引用本文:自兴发,叶青,刘瑞明,何永泰. 氧氩流量比对RF溅射ZnO:Mg薄膜结构及光学性能的影响[J]. 光电子.激光, 2015, 26(5): 883-888
作者姓名:自兴发  叶青  刘瑞明  何永泰
作者单位:楚雄师范学院 物理与电子科学学院,云南 楚雄 675000 ;云南师范大学 太阳能研 究所,可再生能源材料先进技术及制备教育部重点实验室,云南 昆明 650092;楚雄师范学院 物理与电子科学学院,云南 楚雄 675000;楚雄师范学院 物理与电子科学学院,云南 楚雄 675000;楚雄师范学院 物理与电子科学学院,云南 楚雄 675000
基金项目:国家自然科学基金(61271159)资助项目 (1.楚雄师范学院 物理与电子科学学院,云南 楚雄 675000; 2.云南师范大学 太阳能研 究所,可再生能源材料先进技术及制备教育部重点实验室,云南 昆明 650092)
摘    要:利用射频(RF)磁控溅射技术,采用单质Zn靶和 MgO陶瓷靶共溅射,在O2和Ar气的混合气氛下制备了Mg掺杂ZnO(ZnO:Mg)薄膜,并通过改变O2和Ar的流量比O 2/Ar,研究了 对ZnO:Mg薄膜的物相结构、表面形貌及光学性能的影响。结果表明,室 温下O2/Ar在1∶1~3∶1 范围内制备的薄膜均为单相的ZnO(002)薄膜,薄膜具有三维(3D)的结核生长模式;沉积的 ZnO:Mg薄膜在 N2氛下200℃退火处理后,O2/Ar为3∶1制备的薄膜在380~1200nm光谱范围内具有较高的透过率,可见光区平 均透过率约为85%、最大透过率达90%;薄膜的光学带隙 Eg为3.51eV,Mg掺杂对ZnO薄膜的光学带隙具有 较为明显的调制作用;采用极值包络线法计算表明,薄膜在589.3nm 处的折射率为1.963,膜厚约285nm。

关 键 词:射频(RF)磁控溅射   ZnO:Mg薄膜   透射光谱   光学带隙
收稿时间:2015-02-03

Influence of O2/Ar on structure and optical properties of ZnO:Mg thin films deposited by RF magnetron sputtering
ZI Xing-f,YE Qing,LIU Rui-ming and HE Yong-tai. Influence of O2/Ar on structure and optical properties of ZnO:Mg thin films deposited by RF magnetron sputtering[J]. Journal of Optoelectronics·laser, 2015, 26(5): 883-888
Authors:ZI Xing-f  YE Qing  LIU Rui-ming  HE Yong-tai
Affiliation:School of Physical and Electronic Science,Chuxiong Normal University,Chuxi ong 675000,China ;Key Laboratory of Renewable Energy Materials Advanced Technology and Manufacturing of Ministry of Education of China,Solar Energy Res earch Institute,Yunnan Normal University,Kunming 650092,China;School of Physical and Electronic Science,Chuxiong Normal University,Chuxi ong 675000,China;School of Physical and Electronic Science,Chuxiong Normal University,Chuxi ong 675000,China;School of Physical and Electronic Science,Chuxiong Normal University,Chuxi ong 675000,China
Abstract:
Keywords:radio frequency (RF) magnetron sputtering   ZnO:Mg thin film   transmission spectr um   optical band gap
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